ONTO Onto Innovation Inc.

Onto Innovation Inc. si occupa della progettazione, sviluppo, produzione e supporto di strumenti di controllo di processo che eseguono ispezione di macro-difetti e metrologia negli Stati Uniti, Taiwan, Corea del Sud, Giappone, Cina, Sud-est asiatico, Asia ed Europa. L'azienda offre sistemi di litografia e software analitico per il controllo di processo; e sistemi di metrologia automatizzati e integrati, ispezione di tutte le superfici di wafer di silicio, ispezione di macro-difetti, classificazione automatizzata dei difetti e analisi dei modelli, analisi della resa, metrologia di film opachi, business 4D, litografia per packaging avanzato, software di controllo di processo e prodotti software di gestione della resa. Fornisce inoltre soluzioni di gestione del processo e della resa, e strutture per il packaging e il test dei dispositivi tramite sistemi standalone per metrologia ottica, ispezione di macro-difetti, litografia per packaging e misurazioni di film sottili trasparenti e opachi. Inoltre, l'azienda offre un portafoglio di software per il controllo di processo che include soluzioni per strumenti standalone, gruppi di strumenti e suite per l'intera fabbrica. Inoltre, si occupa di sistemi e software, pezzi di ricambio e altri servizi, oltre a offrire servizi di licenza software; e fornisce linee di prodotti avanzate, come FAaST, CnCV e MBIR. I prodotti dell'azienda sono utilizzati dai produttori di dispositivi semiconduttori e di packaging avanzato; wafer di silicio; fabbricanti di circuiti integrati a semiconduttore; diodi a emissione di luce; laser a emissione superficiale a cavità verticale; sistemi micro-elettromeccanici; sensori di immagine CMOS; dispositivi di potenza a semiconduttore di silicio e composti; dispositivi analogici; filtri RF; archiviazione dati; e varie applicazioni industriali e scientifiche. Onto Innovation Inc. è stata fondata nel 1940 e ha sede a Wilmington, Massachusetts.

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